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SU-8等一些光刻胶和光刻工艺的基本参数

 
类型 型号 厚度 分辨率 后道工艺 现有工艺
微流控胶 SU-8 2000系列 0.5-650μm 大高宽比负胶 大高宽比,垂直性好,耐高温,光学透明,适用于MEMS工艺,钝化层,微流控以及光电子器件。 紫外光刻
SU-8 3000系列 5-100μm 大高宽比负胶 大高宽比,垂直性好,耐高温,光学透明,较2000系列具有更好的基底粘附性,更不易在工艺过程中产生内应力积累,适用于MEMS工艺,微流控,光电器件制作以及作为芯片绝缘、保护层使用。
HTN683/684 20-150μm 5μm@40μm 高宽比>10,低应力,适合于MEMS,微流控、光电器件等制造工艺。
HTG910/920 20-80μm 30μm@110μm 厚胶,适用于电镀,高宽比>3,用于制造凸点、电铸模具等。
KMPR 5-115μm 大高宽比负胶 垂直性好,显影适用TMAH&KOH,易去胶,耐干法刻蚀
SU-8干膜 5-1000μm 大高宽比负胶 多种厚度选择,高宽比>5,粗糙度小,耐腐蚀
电子束胶 SML系列(耐刻蚀) 50-5000nm 极限5nm EM RESIST, 高宽比>10,垂直性好,耐刻蚀,与基底粘附性好 电子束光刻
PMMA/MMA 50-5000nm <10nm MicroChem, 950K, 495K两种分子量,与基底粘附性好,适用于电子束光刻,多层T-Gate剥离,晶圆减薄等。
PMMA 30-2000nm <10nm 高分辨率电子束胶,具有35K, 120K,350K,495K, 950K等多种分子量, 适用于各种电子束光刻。
HSQ 30-950nm <10nm 高分辨率,耐刻蚀,垂直性好,最常用的电子束负胶
RE500 105nm-1μm <20nm 高分辨率,耐刻蚀,水性显影液。
RE650 150-300nm <30nm 取代ZEP520的电子束正胶,高刻蚀选择比。
NRE800 200-350nm <50nm 取代SAL601的电子束负胶。耐刻蚀性能好,高宽比>5。
Lift-off胶 ROL-7133 2.2-4μm 4μm @4μm 负性光刻胶,倒角75-80°,粘附性好,使用普通正胶显影液,适用于制作金属电极或导线。  
LOR/PMGI-SF 50nm-6μm < 0.25μm 粘附性好,良好的耐热稳定性,易去胶,作为双层胶的底层胶使用。 紫外光刻
HTIN160 1.2-2μm 0.6μm @1.2μm 高对比度、高宽容度、易去胶,负胶、Lift-of工艺, 制作电极,导线等
NLOF 1.8-12μm 0.7μm@2μm 感光性好,耐高温大于200C,适用于Lift-of工艺。
NR系列 0.5-20μm 一般高宽比<1 Futurrex, 粘附性好,耐高温,适用于MEMS、封装、生物芯片等工艺
DUV光刻胶 HTKN601系列 0.4-1.2μm 500nm @600nm 适用于半导体的光刻工艺和金属剥离工艺 紫外光刻
HTK109 300-600nm 180nm@0.38μm  
正胶 HTI751 0.8-1.2μm 0.5μm@1μm 高分辨率、低驻波效应、垂直度好,应用于MEMS、IC工艺。 紫外光刻
RDP-8003(55CP) 2.3-3.5μm 2μm@2.5μm 高分辨率,工艺宽容性高,应用于MEMS、IC工艺。
SPR955系列 0.7-3.5μm 0.35μm @0.8μm 分辨率高,0.35μm线宽,广泛使用的高分辨率正胶。
S18xx系列 0.4-2.7μm 0.5μm@1μm 高分辨率正胶,粘附性好,耐酸腐蚀,最常用的薄光刻胶,稳定可靠。
SPR220系列 1-10μm 1μm@3μm4μm@12μm 粘附性好,耐干法/湿法刻蚀,适用于选择性电镀,深硅刻蚀等工艺。
HTI560/560-8 1-8μm 1μm@5μm, 2μm@8μm 化学放大型正胶,用于集成电路中高能注入和pad制造。
负胶 SU-8 GM10xx系列 0.1-200μm 大高宽比负胶 大高宽比,透明度高,垂直性好,适用于微细加工的机械结构(MEMS)和其他的微型系统。 紫外光刻
SU-8
Micro chem系列
0.5-650μm 大高宽比负胶 大高宽比,垂直性好,耐高温,光学透明,适用于MEMS工艺,钝化层,微流控以及光电子器件。
HTG910/920 20-80μm 30μm@110μm 厚胶,适用于电镀,高宽比>3,用于制造凸点、电铸模具等。
HTI683/684 20-150μm 5μm@40μm 高宽比>10,低应力,适合于MEMS,微流控、光电器件等制造工艺。
注:薄胶数据-般为stepper数据,在接触式光刻机上使用时,应按照高宽比1:1 来计算极限分辨率
 
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